有了MDPingot和MDPmap係列，就可以全自動地測量磚塊和矽片中的鐵濃度，而且分辨率非常高。鐵硼對解離前後的壽命測量是一種**使用的測定矽片中鐵的方法。在高摻雜濃度的摻硼矽中，因為它被用於光伏應用，幾乎100%的電活性鐵以FeB對的形式存在。在有足夠能量的光照下，這些鐵對可以在Fe和B中解離。這個過程是可逆的，在一段時間後，所有的FeB對都會再次結合。FeB和Fei有不同的重組特性，因此解離對測量的壽命有影響。在這種影響下，鐵的濃度可以通過以下方式確定：對於鐵的測定，使...

太陽能電池分類：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽能電池放置在PIDcon中電位誘導衰減（PID）是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此，調查其產品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在太陽能電池的生產鏈中盡可能快地測試他們的產品，並調查封裝材料。因此，太陽能電池及其SiNx層的影響可以立於EVA和玻璃的影響進行研究。請注意，這裏考慮的PID是太陽能電池由於高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）而產生的分流。為了對太陽能電池進行分類，使用敏感的EVA和玻璃是很...

EVA評估不同的EVA薄膜與來自同一批次和同一玻璃的太陽能電池的比較PIDcon的測量設置PIDcon可以通過使用一個模擬模塊的樣品堆來調查EVA箔對PID敏感性的影響。用戶隻需將太陽能電池、需要調查的EVA箔和玻璃放在上麵。當然，必須使用同一批次的太陽能電池和同一玻璃進行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用於模塊。

根據IEC62804標準PIDcon的測量設置PIDcon測量的典型結果電勢誘導退化（PID）是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此，調查其產品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在生產鏈中盡早地測試他們的產品，並調查封裝材料。PIDcon允許對標準生產單元進行常規質量控製，測試新工藝、材料或層的變化，並對各種模塊步驟進行鑒定。請注意，這裏考慮的PID是由於高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）導致的太陽能電池的分流。PIDcon的結構實際上與IEC標準...

論文來源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙麵PERC電池背麵PID會導致嚴重的功率損失。與單麵PERC太陽能電池相比，可以發生可逆的去極化相關電位誘導衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導衰退（PID-c）。研究表明，一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的PID測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中...

衍射數據庫卡片又稱為晶體結構卡片或者晶胞卡片，是一種用於描述晶體結構信息的標準化格式。這些卡片通常包含著晶體學家在分析晶體時所得到的重要數據，例如晶格參數、空間群、原子坐標等等。衍射卡片可以作為研究晶體結構的基礎，也可以作為共享晶體結構信息的重要途徑。衍射數據庫卡片最初由國際晶體學聯合會(IUCr)於1965年提出，並於1985年進行了更新。目前有多個常用的衍射卡片標準，包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

蘑菇色视频三維顯微鏡(X-ray3Dmicroscopy)是一種可以在納米尺度下對樣品進行成像的技術。它能夠提供蘑菇视频在线观看版免费率的三維結構信息，能夠在材料科學、生物醫學、納米技術等領域發揮重要作用。蘑菇色视频三維顯微鏡的工作原理基於蘑菇色视频的特性。當蘑菇色视频射入樣品時，樣品中的物質會吸收、散射或反射部分光子。通過探測器記錄這些光子，就可以推斷出樣品的三維結構。與傳統的兩維投影成像不同，三維顯微鏡可以獲取大量的數據，並使用計算機算法將這些數據轉換為三維圖像。這種技術通常需要使用蘑菇色视频聚焦光束，以獲...

晶圓片晶錠壽命檢測儀是一種重要的設備，用於測試半導體器件的質量和壽命。它是半導體工業中不可缺少的關鍵設備之一。晶錠壽命檢測儀采用高精度測量技術，能夠檢測和分析晶圓片和晶錠的性能、品質和壽命。在半導體工業中，晶圓片和晶錠是製造芯片的主要原材料，所以其質量和壽命非常重要。晶錠壽命檢測儀可以通過對晶圓片和晶錠進行測試，評估其質量是否達標，並選擇適合的材料進行生產。晶圓片晶錠壽命檢測儀主要由測試器、控製係統和軟件組成。測試器是檢測儀的核心部分，它可以對晶圓片和晶錠的性能和壽命進行精準...